電子機器の性能を試すために使われる検査治具がICソケットであり汎用型とカスタム型、オリジナル型に分類できます。汎用型は金型を使って大量生産される安価なタイプで、カスタム型は枠だけを金型で作り検査内容に合わせて中身に改良を加えます。オリジナル型はデバイス形状や使用環境、既存の装置などに応じた設計になっており高性能です。カスタム品の電子機器では既存の検査治具が使えない場合がありますが、オリジナル型ならば対応できます。
汎用型やカスタム型よりも高性能な検査治具が欲しい場合にもオリジナル型が適しています。小型で高性能なスマートフォンやパソコン、デジタルカメラなどの電子機器を製造するには集積回路や大規模集積回路が必要になります。前者はIntegratedCircuitを省略してICと呼ばれており、後者はLargeScaleIntegrationを省略してLSIと呼ばれます。これらはフォトリソグラフィという感光性の物質を表面に塗布してパターン状に露光させる技術で作られています。
この技術を使うと細かな素子や配線を個別に組み立てることなく大量生産ができます。新たに論理回路や増幅回路を作るよりも、最初から抵抗やコンデンサなどが組み込まれているICやLSIを使った方が効率的でコストが安くなります。ICやLSIを基板にハンダ付けすると交換や変更を素早く行うことができません。しかし検査治具であるICソケットを使えば、これらをハンダ付けせず交換・変更できるようになります。
製造業の現場では電子機器の性能を効率的に試すため、状況に応じて最適なタイプの検査治具が使われています。